Análise de falhas na superfície ativa de diferentes instrumentos de níquel-titânio por meio da microscopia eletrônica de varredura

Helder Fernandes de Oliveira, Angelita Santos Matos, Mariana Silva Xavier, Elisa da Silva Paula, Mônica Misaé Endo

Resumo


Objetivo: Analisar falhas de fabricação na superfície ativa de diferentes instrumentos de níquel-titânio por meio da microscopia eletrônica de varredura. Material e método: Foram analisados um total de 33 instrumentos distribuídos em dois grupos de acordo com a procedência: G1 - Sistema Protaper Next® sendo analisados 03 kits de 05 instrumentos de NiTi cada (X1 – 17/0.04; X2 – 25/0.06; X3 – 30/0.07; X4 – 40/0.06; X5 – 50.0.06); G2 - Sistema Biorace®, sendo analisados 03 kits constituído de 06 instrumentos  cada (BR0 – 25/0.08; BR1 – 15/0.05; BR2 – 25/0.04; BR3 – 25/0.06; BR4 – 35/0.04; BR5 – 40/0.04); Os instrumentos foram retirados da embalagem e direcionados para a análise de falhas na superfície ativa em imagens de microscopia eletrônica de varredura. Para determinação das falhas na superfície do instrumento, dividiu-se a parte ativa de 16mm em 14 partes de 2,55mm cada (S1-S7), nominadas seguimentos de 1 ao 7. Resultados: As frequências de defeitos encontradas para cada segmento dos instrumentos analisados foram cruzadas com os dados do número do instrumento por meio do teste do Qui-quadrado. Houve influência de uma variável sobre a outra apenas quando se analisou o segmento 1 do kit Protaper Next (p=0,005). O instrumento X4 mostrou um número maior de falhas que os demais instrumentos. A relação entre o número de defeitos observados nos diferentes sistemas de instrumentos foi avaliada pelo teste do Qui-quadrado. Não foram encontradas diferenças estatisticamente significantes entre Biorace e Protaper Next (p>0,05). Conclusão: Ambos os instrumentos dos grupos analisados apresentaram algum tipo de falha na superfície ativa.


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